TEM-試料作成

高品質、高操作性、そして長期に渡る信頼性を持ち、高性能を長く維持して使っていただく事を可能とする、ガタン社のTEM試料作製装置の情報を提供します。

	PIPS Ⅱシステム SEM イメージングおよび分析技術用のサンプルを研磨およびコーティングするように設計されたブロード アルゴン イオン ビーム システム。
	Solarus Ⅱシステム TEM および SEM サンプルとホルダーから炭化水素汚染を除去する次世代プラズマ ツール。
	ディンプルグラインダⅡ 電子透過性に近い状態に事前薄化する高速で信頼性の高い機械的方法により、イオン ミリング時間と不均一な薄化を大幅に削減します。
	ディスクグラインダシステム サンプルを事前薄化して研磨することで、イオン ミリング時間を短縮し、品質を向上させます。
	ディスクパンチシステム 金属、合金、およびすべての延性材料から透過型電子顕微鏡 (TEM) ディスクを切断するための推奨方法です。
	超音波カッター 脆い材料を 3 mm 透過型電子顕微鏡 (TEM) ディスクを超えて切断し、穴や独自の形状を正確に切断します。
	断面試料作製キット 半導体デバイス、さまざまな基板の薄膜、複合材料の断面透過型電子顕微鏡 (XTEM) サンプルの準備に最適です。